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克列(lie)茨kyoritsu共立數字(zi)絕(jue)緣高(gao)壓(ya)搖表兆(zhao)歐表 ? 絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)試(shi)最大可(ke)(ke)達(da)1TΩ ? 短路電(dian)流可(ke)(ke)達(da)1.5mA ? 測(ce)試(shi)電(dian)壓(ya)范圍為250V-5000V ? PI和DAR的(de)(de)診斷功能(neng)(neng) ? 采用最新設(she)(she)計的(de)(de)鱷(e)魚(yu)夾 ? 配(pei)備了(le)堅(jian)固的(de)(de)便攜箱 ? 濾波功能(neng)(neng)可(ke)(ke)減(jian)少噪音干擾而有利于穩(wen)定測(ce)試(shi) ? 可(ke)(ke)顯示條形圖的(de)(de)大顯示屏具有背(bei)光功能(neng)(neng) ? 通電(dian)回(hui)路警告功能(neng)(neng) ? 設(she)(she)計符合國際安全(quan)規格 IEC 61010-1 CAT IV 3

midi LOGGER GL220采(cai)用(yong)小型(xing)、可(ke)(ke)放心測定(ding)的全頻道(dao)絕緣(yuan)輸入方式。可(ke)(ke)進行電(dian)壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯(ji)的多元輸入。 根(gen)據客(ke)戶(hu)要求提供多種高速電(dian)壓測定(ding)，可(ke)(ke)測定(ding)范圍擴展至10ms取樣(yang)（電(dian)壓范圍1ch輸入時）。 此外(wai)，內置存(cun)儲(chu)器中搭載2GB大容(rong)量閃存(cun)，無(wu)需使用(yong)外(wai)部存(cun)儲(chu)媒體即(ji)可(ke)(ke)實(shi)現長時間(jian)的數(shu)據収錄。 GL220提高了可(ke)(ke)對應(ying)多樣(yang)化測量用(yong)途的功能(neng)性與操作性,從(cong)研究開發到生產線現場(chang)，可(ke)(ke)1人(ren)1臺進行使

&采用(yong)(yong)WINDOWS操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)系(xi)統(tong)，操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)更方便(bian)。 &智能(neng)化(hua)、數(shu)字化(hua)、全中(zhong)文操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)菜(cai)單、準確測(ce)量、操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)簡(jian)便(bian)； 　&重量輕，手持設計，單人操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)，全程(cheng)自動(dong)測(ce)量； &大(da)容量存儲，歷史(shi)數(shu)據自動(dong)匯集，隨(sui)時查(cha)詢； &測(ce)試夾（棒）可選，適應各種(zhong)電(dian)池檢(jian)測(ce) &4.3英寸LCD顯示，中(zhong)文界面(mian)，觸屏操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)，使(shi)用(yong)(yong)簡(jian)便(bian)； &直(zhi)流大(da)電(dian)流測(ce)試，抗干擾，測(ce)試更準確； &USB接(jie)口數(shu)據拷貝、INTERNET接(jie)口遠程(cheng)系(xi)統(tong)升級

SDY-5型雙電測(ce)(ce)四探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)(ce)試儀采用了(le)四探(tan)針(zhen)(zhen)雙位組合測(ce)(ce)量(liang)(liang)技術(shu),利(li)用電流探(tan)針(zhen)(zhen)、電壓探(tan)針(zhen)(zhen)的(de)變換，進行兩次電測(ce)(ce)量(liang)(liang)，能(neng)自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以(yi)及探(tan)針(zhen)(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和(he)機械游移等(deng)因(yin)素對測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)的(de)影響，從(cong)而提高了(le)測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)的(de)準確(que)度

RTS-5型雙電(dian)測(ce)四(si)探(tan)針(zhen)(zhen)測(ce)試儀采用了四(si)探(tan)針(zhen)(zhen)雙電(dian)測(ce)組合(he)(亦稱(cheng)雙位組合(he))測(ce)量(liang)(liang)新技術,將范(fan)德堡測(ce)量(liang)(liang)方法推廣應用到(dao)直線(xian)四(si)探(tan)針(zhen)(zhen)上,利用電(dian)流探(tan)針(zhen)(zhen)、電(dian)壓探(tan)針(zhen)(zhen)的變換，在計算機控制下(xia)進行兩(liang)次電(dian)測(ce)量(liang)(liang)，能自動(dong)消(xiao)除樣(yang)品幾何(he)尺寸、邊界效應以(yi)及探(tan)針(zhen)(zhen)不等(deng)(deng)距和(he)機械游移等(deng)(deng)因素對測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)的影(ying)響。

RTS-9型(xing)雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)四探(tan)針(zhen)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀采用(yong)了四探(tan)針(zhen)雙(shuang)電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)組(zu)合(he)(he)(亦(yi)稱(cheng)雙(shuang)位組(zu)合(he)(he))測(ce)(ce)(ce)(ce)量新技(ji)術(shu),將范德(de)堡(bao)測(ce)(ce)(ce)(ce)量方法推廣應(ying)用(yong)到(dao)直(zhi)線四探(tan)針(zhen)上(shang),利用(yong)電(dian)(dian)流探(tan)針(zhen)、電(dian)(dian)壓探(tan)針(zhen)的變換，在計算機控制(zhi)下進行兩次電(dian)(dian)測(ce)(ce)(ce)(ce)量，能(neng)自動消(xiao)除樣品(pin)幾何尺寸、邊界(jie)效應(ying)以及(ji)探(tan)針(zhen)不等(deng)距(ju)和(he)機械游移等(deng)因素對測(ce)(ce)(ce)(ce)量結果的影響。

RTS-3型(xing)手持式四探針測(ce)試儀(yi)是運用四探針測(ce)量(liang)(liang)原理(li)的多(duo)用途綜(zong)合測(ce)量(liang)(liang)設備。該儀(yi)器按照單(dan)晶(jing)硅(gui)物(wu)理(li)測(ce)試方法國家標(biao)準(zhun)并參考美國 A.S.T.M 標(biao)準(zhun)而設計(ji)的，于測(ce)量(liang)(liang)硅(gui)晶(jing)塊、晶(jing)片電(dian)阻(zu)率及擴散層、外延(yan)層、ITO導電(dian)箔膜、導電(dian)橡(xiang)膠(jiao)等材料方塊電(dian)阻(zu)的小型(xing)儀(yi)器。

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針(zhen)測試儀(yi)(yi)是(shi)運用(yong)四探針(zhen)測量原(yuan)理的(de)多(duo)用(yong)途綜合測量設(she)備。該儀(yi)(yi)器(qi)按(an)照單晶(jing)硅物理測試方法國(guo)(guo)家標準并(bing)參考(kao)美(mei)國(guo)(guo) A.S.T.M 標準而設(she)計的(de)，于測量硅晶(jing)塊、晶(jing)片電(dian)(dian)阻率(lv)及(ji)擴(kuo)散層(ceng)、外延層(ceng)、ITO導電(dian)(dian)箔膜、導電(dian)(dian)橡膠等材(cai)料(liao)方塊電(dian)(dian)阻的(de)小型儀(yi)(yi)器(qi)。

SDY-4型(xing)四探針測(ce)試儀(yi)是根據單晶硅物理測(ce)試方法國家標(biao)準并(bing)參考美國A.S.T.M標(biao)準設計的(de)半導體材料(liao)電阻(zu)率及方塊(kuai)電阻(zu)(薄層電阻(zu))測(ce)試儀(yi)器(qi).